Применение угловых дескрипторов и диаграмм направленности сигнала в высокочастотном и сверхвысокочастотном термическом анализе анизотропно-гетерогенных структур на чипе. I.
Предлагается использование угловых дескрипторов (в полярных и эйлеровых координатах), а также диаграмм направленности многих переменных в высокочастотном и сверхвысокочастотном термическом анализе анизотропно-гетерогенных структур на чипе.